通过外观检测无法检测到器件内部情况，而X射线具有穿透能力强的特性，利用被测物体密度和厚度吸收和反射X射线的特性不同，残留下不同强度X射线经过信号转换形成相应影像，X射线扫描是进行非破坏性内部缺陷分析的高效且快速的方法，可检测待测物内部结构是否有缺陷、空洞、开裂等异常，利用专业的低能X射线检测设备对元件内部质量进行快速实时的无损检测。