CT扫描即计算机断层扫描成像技术，通过计算机和X射线检测技术相结合，能在不破坏零件的前提下获取物体内部结构和表面特征信息，重建物体内部的三维立体结构，能够定量地提供物体内部的物理、力学等特性，分析结构、组成、材质和缺损等状况，是对部件进行尺寸测量和高效分析的无损检测技术。

检测范围
集成芯片、晶体管、电阻、电容、电感、变压器、传感器、机电元件、连接器、PCB、PCBA、电源模块、信号模块、评估开发板、有机组件等

检测标准
ASTM E1441-16、ISO 10360-8、VDI/VDE 2630等