由于超声波能量的传递要求介质是连续的,在不连续的界面会发生信号的透射、反射和折射,当超声波在样品内部通过时,由于声阻抗不同,在有缺陷或粘结不良的界面会出现反射波,通过超声波探头接收回波,从而产生不同的电信号,经过算法分析生成易于分辨的数字影像。超声波扫描可用来检测芯片内部不同位置的分层、裂缝、气洞等结构缺陷,是失效分析中进行无损分析的重要分析方法之一。
检测范围集成芯片、晶体管、电阻、电容、电感、变压器、传感器、机电元件、连接器、PCB、PCBA、电源模块、信号模块、评估开发板、有机组件等
检测标准AS6081,AS6171/6,IPC/JEDEC J-STD-020,IPC/JEDEC J-STD-035等