电子元器件及电路板在长时间工作下的生命周期符合典型的“浴缸曲线”，可分为初始失效期、有效期及耗尽期，它被用来描述零部件在使用期限内的故障特性，不同零部件的特性曲线不同，因此对于不同零部件、不同使用期限的可靠性评估可选用对应的试验方法也是多种多样的。老化试验是评估可靠性的重要方法之一，通过一系列试验利用温度及加载加速的方式，模拟电子元器件及电路板在现实使用条件中受各种因素影响所产生的老化进行相应条件加强的过程，主要包括温度老化试验、加载老化试验、腐蚀老化试验、辐照老化试验等。