扫描电镜,即扫描式电子显微镜,主要是利用微小聚焦的高能电子束对样品表面进行扫描,利用电子束与物质间的相互作用可以激发出各种信号,如二次电子、背向散射电子及特征X射线等,扫描电镜主要利用二次电子的信号来成像,具有景深大、分辨率高、放大倍率高等特点,可用来观察样品表面及剖面微结构。X射线能谱是用于样品分析和表征的分析技术,通过配合扫描电镜使用,利用电子束与物质间相互作用时产生的特征X射线,可对样品表面进行材料微区成分分析,可定性、半定量检测大部分元素种类与含量。
检测范围
集成芯片、晶体管、电阻、电容、电感、变压器、传感器、机电元件、连接器、PCB、PCBA、电源模块、信号模块、评估开发板等
检测标准
GB/T 17359-2012等